測量介質(zhì):固體,存儲容器,過程容器或者強(qiáng)粉塵場合
測量范圍:0.1m~100m
過程連接:法蘭>DN100
過程溫度:-40~110°C
過程壓力:-0.1~0.3MPa
天線尺寸:76mm透鏡天線+萬向法蘭+吹掃
天線材質(zhì):PTFE
精 度:土5mm
防護(hù)等級:IP67
中心頻率:80GHZ
發(fā) 射 角:3°
電 源:二線制/DC24V
四線制/DC12~24V四線制/AC220V
外 亮:鋁/塑料/不銹鋼
信號輸出:二線制/4...20mA/HART協(xié)議四線制/4...20mA/RS485 MODBUS
1.L329-B80系列調(diào)頻雷達(dá)物位計(jì)測量精度最高可達(dá)±1mm,測量最小盲區(qū)為50mm。
2.更小的天線尺寸,滿足了更多的工況場合測量。
3.多種透鏡天線,更小的發(fā)射角,更集中的能量,回波信號更強(qiáng),同等工礦條件下,相比于其他雷達(dá)產(chǎn)品具有更高的可靠性。
4.擁有更強(qiáng)的穿透性,在有粘附及凝結(jié)的情況下也可以正常使用。
5.動態(tài)信號范圍更大,對于低介電常數(shù)介質(zhì)的測量更加穩(wěn)定。
6.多種測量模式,可選擇料位或者空高顯示,電流可正反向輸出。
7.測量盲區(qū)更小,對于小罐測量也會取得良好的效果。
8.高信噪比,即使在波動的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。
9.高頻率,是測量固體和低介電常數(shù)介質(zhì)的最佳選擇。
L329-B80系列調(diào)頻雷達(dá)物位計(jì)采用調(diào)頻連續(xù)波(FMCW)技術(shù)。天線發(fā)射高頻的調(diào)頻雷達(dá)信號,雷達(dá)信號的頻率線性增加。發(fā)射的雷達(dá)信號經(jīng)被測量介質(zhì)反射后由同—天線接收。在同—時(shí)刻,發(fā)射信號頻率與接收信號頻率的頻率差與被測距離成正比。采集到的頻率差信號,經(jīng)芯片電路部分高速計(jì)算,并以此計(jì)算得出待測目標(biāo)的高度。
測量介質(zhì):固體,存儲容器,過程容器或者強(qiáng)粉塵場合
測量范圍:0.1m~100m
過程連接:法蘭>DN100
過程溫度:-40~110°C
過程壓力:-0.1~0.3MPa
天線尺寸:76mm透鏡天線+萬向法蘭+吹掃
天線材質(zhì):PTFE
精 度:土5mm
防護(hù)等級:IP67
中心頻率:80GHZ
發(fā) 射 角:3°
電 源:二線制/DC24V
四線制/DC12~24V四線制/AC220V
外 亮:鋁/塑料/不銹鋼
信號輸出:二線制/4...20mA/HART協(xié)議四線制/4...20mA/RS485 MODBUS
1.L329-B80系列調(diào)頻雷達(dá)物位計(jì)測量精度最高可達(dá)±1mm,測量最小盲區(qū)為50mm。
2.更小的天線尺寸,滿足了更多的工況場合測量。
3.多種透鏡天線,更小的發(fā)射角,更集中的能量,回波信號更強(qiáng),同等工礦條件下,相比于其他雷達(dá)產(chǎn)品具有更高的可靠性。
4.擁有更強(qiáng)的穿透性,在有粘附及凝結(jié)的情況下也可以正常使用。
5.動態(tài)信號范圍更大,對于低介電常數(shù)介質(zhì)的測量更加穩(wěn)定。
6.多種測量模式,可選擇料位或者空高顯示,電流可正反向輸出。
7.測量盲區(qū)更小,對于小罐測量也會取得良好的效果。
8.高信噪比,即使在波動的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。
9.高頻率,是測量固體和低介電常數(shù)介質(zhì)的最佳選擇。
L329-B80系列調(diào)頻雷達(dá)物位計(jì)采用調(diào)頻連續(xù)波(FMCW)技術(shù)。天線發(fā)射高頻的調(diào)頻雷達(dá)信號,雷達(dá)信號的頻率線性增加。發(fā)射的雷達(dá)信號經(jīng)被測量介質(zhì)反射后由同—天線接收。在同—時(shí)刻,發(fā)射信號頻率與接收信號頻率的頻率差與被測距離成正比。采集到的頻率差信號,經(jīng)芯片電路部分高速計(jì)算,并以此計(jì)算得出待測目標(biāo)的高度。
在線留言
相關(guān)產(chǎn)品